La elipsometría es una técnica óptica utilizada para analizar las superficies, que se basa en el cambio del estado de polarización de la luz cuando ésta atraviesa la superficie plana de una muestra.
Con el equipo propuesto es posible estudiar el proceso físico de la elipsometría y, específicamente, efectuar varias mediciones, como, p. ej., determinar la constante óptica del material (índices de refracción y absorción) y realizar mediciones de espesores de muestras delgadas de varios materiales.
Se puede incluir también una discusión sobre incertidumbre y error de medición.
PROGRAMA DE FORMACION
• Elipsometría como técnica óptica para el análisis de superficie
• Determinación del índice de refracción de diversos materiales
• Determinación del índice de absorción de diversos materiales
• Medición del espesor de diversos muestras sólidas
DATOS TECNICOS
• 1 estructura de soporte
• 1 polarizador circular
• 2 polarizadores lineales
• 1 filtro de longitud de onda ?/4
• Portamuestras
• Goniómetro con escala
• Láser verde (532 nm), 1 mW
• Láser rojo (650 nm), 1 mW
• Detector para relevar el haz de luz; se conecta al sistema de adquisición de datos mod. EV2010/EV
• Conjunto de muestras compuesto por: sustrato de silicone, silicone monocapa, muestra de aluminio, hoja de vidrio
FABRICANTE : ELECTRONICA VENETA
